计量的一般用语□品质控质千分尺测微头内径测量器卡尺高度卡尺深度尺量块数显指示表666688661010偶然原因 chance causes这些变化原因的重要性相对较低。即使可以找到原因，也注意Cp仅仅代表公差限制和过程偏差之间的关系，没有考虑制程平均值的位置。＜注意＞将过程平均值与目标过程平均值之间的差异考虑在内的过程能力指数，即，上公差(USL减去平均值)除以3σ(过程能力的一半)或下公差(平均值减去LSL)除以3σ，以较小者为准。无法从技术或经济上消除原因。参考文献・日本标准协会 JIS品质控制手册 Z 8101：1981 Z 8101-1：1999 Z 8101-2：1999 Z 9020：1999 Z 9021：1998过程能力为通常可以接受的最小值，因为它与公差极限的差异不小于1σ。过程能力足以满足要求， 因为它与公差极限的差异不小于2σ。X-R控制图X-R control chart 用于过程控制的控制图，在整个过程中提供绝大部分的信息。-R控制图由以下构成。· 监视过程平均值的偏差，根据各子组的平均值管理的控制图。· 监视偏差的异常，根据范围管理的R管理图。通常情况下，两个图表一起使用。如何读取控制图如下所示的控制图中的连续点位的典型趋势，是不希望出现的。这些趋势意味着一个“特殊原因”正在影响过程和需要操作员采取措施去纠正。这些判定规则只提供一个引导。当实际确定规则时，要考虑到过程中的具体变化。假设控制上限和控制下限距离中心线3σ处，将控制图划分成六个区，每1σ个间隔，适用下列规定。这些规则适用于X控制图和X控制图。需要注意的是，这些“措施趋势规则”是在假设正态分布的情况下而制定的。可以制定适应任何其他分配的规则。LSLLSLLSLLSLLSLLSLUSLUSLUSLUSLUSLUSLCp = 1.33Cp = 1.67控制图 control chart通过将过程变化分为由于偶然原因和由于故障引起的变化来控制过程。控制图由一条中心线(CL)以及在其上方和下方(UCL和LCL)合理确定的控制限制线组成。可以说，在绘制表示过程输出的特征值时，如果所有点都在无明显趋势的控制上限线和控制下限线以内，则过程处于统计控制状态。控制图是控制过程输出以及品质的有用工具。* 13-3〜13-4页是参考日本标准协会JIS手册品质控制的基础上，并由三丰公司做出自行判断而编写的。13-4计量的一般用语: 品质控质1 2 3 4 5 子组号6 X + 3σX + 2σX + 1σUCLXXXX7XXXX13精密量仪·量具的小知识X - 1σX - 2σX - 3σLCL② 连续九个点位于中心线的一侧X + 3σX + 2σX + 1σUCLX - 1σX - 2σX - 3σLCL④ 交替增加和减少14点X + 3σX + 2σX + 1σUCLX - 1σX - 2σX - 3σLCL⑥ 连续五点中的四个超过中心线 两侧±1σX + 3σX + 2σX + 1σUCLX - 1σX - 2σX - 3σLCL⑧ 有连续8个点超过中心线±1σX + 3σX + 2σX + 1σX - 1σX - 2σX - 3σX + 3σX + 2σX + 1σX - 1σX - 2σX - 3σX + 3σX + 2σX + 1σX - 1σX - 2σX - 3σX + 3σX + 2σX + 1σX - 1σX - 2σX - 3σ上限控制线 (UCL)下限控制线 (LCL)中心线 (CL)UCLLCL① 有一个点超出控制限制线(±3σ) 之一的UCLLCL③ 连续增加或减少六点UCLLCL⑤ 连续三个点中有两个超出中心线 两侧±2σUCLLCL⑦ 有连续15点在中心线±1σ
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