■适用●实现了高精度(0.9+0.003L)µm、最小显示分辨力0.01µm的高端测量显微镜。●通过3轴电动操纵杆(前置控制手柄)，可以在快速移动过程中进行精细定位。●250×150mm的大型工作台，可以满足各种测量的需要。●与Vision Unit结合使用，可以提供有效且稳定的测量环境。———— — (配有四孔手动转塔/电动五孔转塔*1)(配有四孔手动转塔/电动四孔转塔*2)150mm———— ±3º30kg(0.9+0.003L) µm L：测量长度(mm) ■规格型号货号显微镜*1, *2: 为出厂设置。 *3: 测量方法符合JIS B7153标准。镜筒观察成像目镜物镜(选件)转塔 (选件)聚焦部分照明装置工作台检出装置数显操作部分ML系列物镜BF(明视场)BD(明/暗视场)BF(明视场)BD(明/暗视场)最大工件高度测量精度驱动方式透射照明装置反射照明装置测量范围(X×Y)测量精度*3 (X和Y轴无负载)工作台台面尺寸载物玻璃有效尺寸 旋转角度最大承载质量驱动方式标准分划板(内置)可调瞳距光路切换比俯角TV端口放大倍率可选择单目镜筒(附带一个目镜)或双目镜筒(附带两个目镜)1X,3X,5X,10X,20X, 50X,100X分辨力显示轴数据处理装置LAF(只对焦)LAF(跟踪对焦)有限远校正光学系统无限远校正光学系统 远心光学系统，内置孔径光阑，卤素灯泡(12V，50W)，100级光强度可调，光纤冷光照明柯勒照明，可变孔径光阑机制，卤素灯泡(12V，100W)，100级光强度可调，光纤冷光照明Hyper MF-U•镜筒、转塔、物镜和照明装置为选件。HyperMF-UD2515B 176-431DC 176-432DCM Plan Apo, M plan Apo SL, G plan Apo无限远校正光学系统 BF(明视场)带LAF功能角度可调附带两个10X目镜 三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。无限远校正光学系统 BD(明/暗视场)带LAF功能可用可用BF(明视场)25ºJ-9BF(明视场)BD(明/暗视场)90º虚线十字线(线宽5µm)(1.5+0.01L) µm L：测量长度(mm)250×150mm460×350mm300×200mm0.01µmX, Y, Z轴Vision Unit(必选)无限远校正光学系统 西登托夫型调节范围：51-76mm观察/TV显微摄影=50/50作为标准附属品提供正立正像10X, 20X使用控制手柄进行电动控制使用手柄进行电动控制高精度数字标尺J高精度测量显微镜Hyper MF/MF-UHyperMF-B2515BHyperMF-UB2515B 176-430DCHyperMF-UE2515B 176-433DCBD Plan ApoHyperMF-UF2515B 176-434DC
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