N-15N三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。三坐标测量机 ● 三维尺寸精密测量技术非接触式线性激光测头SurfaceMeasure ●高速扫描SurfaceMeasure通过用激光照射工件表面，从工件上捕获坐标数据。用这种方法可以进行超快数据采集，可达到每秒钟75,000点*的测头。* 使用SurfaceMeasure 606/610/1010。 ●非接触式测量的优势非接触式测量使得测量弹性物品变得可能。例如：树脂，薄壁塑件等具有弹性的工件也可进行测量。 ●无喷粉测量根据环境和工件材质，通过自动调整激光强度和相机感光度，SurfaceMeasure可以完成无喷粉测量，提供了一种更简单，更适宜的激光扫描环境。 ●应用实例收集的点云数据可通过丰富的可选软件用于多种用途，如各种编辑，曲面生成，与CAD数据的比对以及CAD数据创建等。色彩板的测量反光物体的测量403/606/610/1010606T201FS10010011516560601593123601001151656065171203.55057.524040305166183282282147.5289403一般工件测量606一般工件测量610深工件测量1010大工件测量606T深工件/钣金件测量201FS高灵敏度/一般工件测量Surface Measure 403 *1SurfaceMeasure 606SurfaceMeasure 610SurfaceMeasure 1010SurfaceMeasure 606TSurfaceMeasure 201FS激光照射方式激光直线照射 · 单束激光直线照射 · 交叉飞点测量范围40mm60mm60mm最大100mm3×65mm最大23mm测量深度30mm60mm100mm100mm65mm15mm工作距离66mm123mm165mm165mm203.5mm57.5mm扫描误差 *28µm12µm15µm18µm17µm1.8µm最大采集速度60,000点/秒75,000点/秒3×25,500点/秒25,000点/秒质量430g430g400g400g480g500g激光等级EN/IECClass2 [EN/IEC 60825-1(2014)]JIS Class2 [JIS C 6802 : 2014]媒体红色半导体激光器半导体光激射器激光测量波长660nm670nm输出4mW 1mW制导激光波长—635nm—输出—1mW —*1：定制商品。*2：根据本公司检查方法。(1σ/球面测量仅测头误差) ■规格 ●激光线(线性激光) · 十字形式，可以用3条激光一起扫描，即使对复杂形状也可以高效率地进行测量。 (SurfaceMeasure 606 T 的情况) 通过减少测头位置的变换次数 “提高测量效率” 通过3个方向同时扫描 “同时测量表面和内侧”。 ●飞点形式，对边缘部分测量实现高形状再现性，并且达到高级别的扫描精度。(SurfaceMeasure 201FS的情况)位置不可变可选激光激光从3个斜向照射到中心方向。
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