L 三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。L-28L009018027036000901802703600090180270360009018027036000901802703600090180270360009018027036000901802703600090180270360902700180902700180902700180902700180902700180902700180902700180902700180902700180ΔZq=17.61µmΔZq=12.35µmΔZq=22.14µmΔZq=16.60µmΔZq=20.72µmΔZq=22.04µmΔZq=18.76µmΔZq=14.50µm15 upr振幅振幅振幅振幅振幅振幅振幅振幅振幅角度角度角度角度角度角度角度角度角度50-500 upr15-500 upr15-150 upr500 upr150 upr50 uprΔZq = Rmax-RminΔZz = Rmax-RminΔZi = Rmax-RminΔZc = Rmax-Rmin最小二乘圆(LSC)最小区域圆(MZC)最小外接圆(MCC)最大内切圆 (MIC)ΔZq: 以LSC评定的圆度值符号ΔZz: 以MZC评定的圆度值符号ΔZc: 以MCC评定的圆度值符号ΔZi: 以MIC评定的圆度值符号RmaxRminRmaxRminRmaxRminRmaxRmin将一个圆与被测轮廓相拟合，以使轮廓数据偏离该圆的平方和最小。然后，将圆度定义为轮廓到该圆的最大偏差(最大峰高到最大谷深)之间的差。创建可以包围被测轮廓的最小圆。然后将圆度定义为轮廓与该圆的最大偏差。该圆有时也称为“环规”圆。放置两个同心圆包围被测轮廓，以使它们的径向差最小。然后，将圆度定义为这两个圆的径向间隔。创建可被轮廓数据包围的最大圆。然后将圆度定义为轮廓与该圆的最大偏差。该圆有时称为“塞规”圆。■滤波器设置对测量轮廓的影响■滤波2CR 滤波器高斯滤波器标准ISO 4291: 1985*3ISO 12181-1: 2011*5衰减率75 %50 %■术语与缩略语 ISO 12181-1: 2011*5缩略语术语LSCI最小二乘评定基圆LSCY最小二乘评定基圆柱LSLI最小二乘评定基线LSPL最小二乘评定基面LCD局部圆柱度偏差LFD局部平面度偏差LRD局部圆度偏差LSD局部直线度偏差MICI最大内切评定基圆MICY最大内切评定基圆柱MCCI最小外接评定基圆MCCY最小外接评定基圆柱MZCI最小区域评定基圆MZCY最小区域评定基圆柱MZLI最小区域评定基线MZPL最小区域评定基面UPR每转波数■参数与缩略语 ISO 12181-1: 2011*5缩略语参数评定基圆*最小区域最小二乘最小外接最大内接CYLtt圆柱锥度(LSCY)———STRsg素线直线度偏差———STRLc局部素线的直线度偏差———CYLp峰-基圆柱度偏差(LSCY)———FLTp峰-基平面度偏差(LSPL)———RONp峰-基圆度偏差(LSCI)———STRp峰-基直线度偏差(LSLI)———CYLt峰-谷圆柱度误差(MZCY、LSCY、MICY、MCCY)FLTt峰-谷平面度误差(MZPL、LSPL)——RONt峰-谷圆度误差(MZCI、LSCI、MCCI、MICI)STRt峰-谷直线度误差(MZLI、LSLI)——CYLv基-谷圆柱度偏差(LSCY)———FLTv基-谷平面度偏差(LSPL)———RONv基-谷圆度偏差(LSCI)———STRv基-谷直线度偏差(LSLI)———CYLq均方根圆柱度误差(LSCY)———FLTq均方根平面度误差(LSPL)———RONq均方根圆度误差(LSCI)———STRq均方根直线度误差(LSLI)———STRsa提取中线的直线度误差* 可应用参数的评定基圆■评定圆度误差的方法轮廓可以通过各种方式过滤，以减少或消除不需要的成分，并根据每周波数(upr)设置截止值。下图显示了不同的upr设置的效果，该图说明了随着较低upr的设置逐渐使线条平滑，测得的圆度值是如何降低的。圆度仪使用测量数据来生成评定基圆，其大小限定了圆度值。生成这些圆的方法有四种，如下所示，每种方法都有其各自的特征，因此应选择最适合工件功能的方法。每种方法都会导致评定基圆的中心位置不同，因此会影响所测圆要素的轴向位置。无滤波低通滤波器带通滤波器ISO 12181-1: 2011*5, ISO 4291: 1985*3ISO 12181-2: 2011*4*1 ISO / DIS 1101:2017 (GB/T 1182-2018) 产品几何技术规范(GPS)几何公差 形状、方向、位置和跳动公差标注*2 ISO 5459 (GB/T 17851-2010) 产品几何技术规范 几何公差 基准和基准体系*3 ISO 4291: 1985 (GB/T 7237-2004) 产品几何技术规范(GPS)评定圆度误差的方法 半径变化量测量*4 ISO 12181-2: 2011 (GB/T 24632.2-2009) 产品几何技术规范(GPS)圆度 第二部分：规范操作集*5 ISO 12181-1: 2011 (GB/T 24632.1-2009) 产品几何技术规范(GPS)圆度 第一部分：词汇和参数
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