L-14L 三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。Formtracer CS-3200S4525系列 — 表面粗糙度和轮廓测量系统CS-3200S4■规格型号CS-3200S4测量范围/分辨力X轴100mm/0.05µmZ1轴 (检出器)5mm/0.08µm0.5mm/0.008µm0.05mm/0.0008µmZ2轴 (立柱)300mm/1µm精度 (20ºC)X轴±(0.8+0.01L)µm (L= 测量长度(mm))Z1轴 (检出器)±(1.5+|2H|/100) µm H = 水平位置上的测量高度 (mm)驱动部直线度 (X轴)正常使用下0.2µm/100mm当伸出到最大程度0.4µm/100mm测量速度表面粗糙度测量0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4级)轮廓测量0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7级)驱动速度X轴 (水平方向)0-80mm/s外加手动Z2轴 (垂直方向)0-20mm/s外加手动上/下移动300mm (电动)倾角范围±45º检出器检出方式差动感应测力0.75mN测针名称标准测针 (用于粗糙度/轮廓测量)针尖角度: 60º 圆锥, 针尖半径: 2µm, 金刚石针尖圆锥型 (用于轮廓测量)针尖角度: 30º 圆锥, 针尖半径: 25µm, 蓝宝石针尖测针上/下运作适用 (可在半空停顿)* 仪器本体的一部分采用天然石材，所以表面会有些纹理的情况。* 可根据需求订制Z2轴立柱规格，X轴200mm型等，详细请联络当地三丰事务所或经销商。附带测量数据输出功能的产品可连接到测量数据网络系统MeasurLink(详细信息参见A-17页)。测量仪器附带检查成绩书 详细信息参见 U-12页●配有宽范围且高分辨力的Z轴检出器。●测量范围 Z1轴 (检出器): 5mm (分辨力: 0.0008µm 测量范围为0.05mm时适用) X轴: 100mm (分辨力: 0.05µm)●检出器的延伸量：最大70mm(可固定在所需的位置)。●使用官方FORMTRACEPAK软件提供了丰富多样的分析功能以实现优良的表面纹理评估。
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