L-13LFormtracer●表面粗糙度、轮廓形状一体机 三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。表面粗糙度测量功能●粗糙度测量和轮廓测量一体机，极大的节约了安装空间。●高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的最高显示分辨力为0.0001µm (测量范围为8µm时)。●X轴内置高精度玻璃栅尺，直接读取X轴移动距离，在高精度精准定位下，完成间距参数的评价。●检出器测力有4mN和0.75mN可选。轮廓测量功能●Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm，同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。 ●专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。 (1) 装配双锥面测针，实现垂直方向(上/下)连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。 (2) 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重和位置。参见 SV-C3200/4500 系列 (C15012) 产品样本向下(下面)测量通过软件可切换向上/向下测量方向。向上(上面)测量向上 (上平面) 测量速度Z1轴测量范围增加了10mm• SV-C3100/4100 (以前产品)• SV-C3200/450050mm10 mm60mm19 mm测量仪器附带检查成绩书 详细信息参见 U-12页形状测量系统产品样本No.C15012(2)表面形状测量机通过更换检测器，一台机器上即能测量表面粗糙度和轮廓形状的高精度一体型测量机SV-C3200/4500系列Formtracer SV-C3200/4500525系列 — 表面粗糙度和轮廓测量系统表面粗糙度测量轮廓测量粗糙度轮廓测量SV-C3200L4 (带选件)SV-C3200S4■规格型号SV-C3200S4SV-C3200H4SV-C3200W4SV-C3200L4SV-C3200S8SV-C3200H8SV-C3200W8SV-C3200L8SV-C4500S4SV-C4500H4SV-C4500W4SV-C4500L4SV-C4500S8SV-C4500H8SV-C4500W8SV-C4500L8• 测量表面粗糙度时测量范围X轴(驱动部)100mm200mmZ1轴(检出器)800µm/80µm/8µm直线度(0.05+L/1000) µm L: 驱动长度 (mm)(0.1+0.002L) µm L: 驱动长度(mm)分辨力Z1轴(检出器)0.01µm(800µm), 0.001µm(80µm), 0.0001µm(8µm)测力0.75mN (仪器货号末尾带 "-1"的型号) 4mN (仪器货号末尾带 "-2"的型号)测针针尖形状 60º, 2µmR (仪器货号末尾带 "-1"的型号) 90º, 5µmR (仪器货号末尾带 "-2"的型号)对应尺寸JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA评价参数Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, Pq, Pmr(C), Pmr, Pc, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,Rt, Rc, RSm, Rq, Rmr(C), Rmr, Rc, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, Wq,Wmr(C), Wmr, Wc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW评价轮廓原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、包络残余线、DF轮廓 (DIN4776/ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包络波纹轮廓在评价MOTIF时显示)分析图负荷轮廓、振幅分布轮廓、功率谱、自相关、Walsh功率谱、 Walsh自相关、顶峰分布、倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析)轮廓补偿最小平方直线、R面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双轮廓补偿、二次轮廓补偿、多项式补偿(自动或任意2~7次)、无补偿滤波器高斯滤波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 鲁棒样条滤波器• 轮廓测量测量范围X轴(驱动部)100mm200mmZ1轴(检出器)60mm (测臂水平位置±30mm)直线度0.8µm/100mm2µm/200mm精度X轴(驱动部)±(0.8+0.01L)µm L: 驱动长度 (mm)±(0.8+0.02L)µm L = 驱动长度 (mm)Z1轴(检出器)SV-C3200 系列: ±(1.4+|2H|/100)µm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)µmH: 水平位置上的测量高度 (mm)分辨力X轴(驱动部)0.05 µmZ1轴(检出器)SV-C3200系列: 0.04µm, SV-C4500 系列: 0.02µmZ2轴(立柱)1 µm测力SV-C3200系列: 30mN (可调使用重量)SV-C4500系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)测头方向SV-C3200系列: 垂直方向 (向上/向下单独测量)SV-C4500系列: 垂直方向 (向上/向根据配重调整)• 通用规格Z2轴(立柱)移动量300mm500mm700mm300mm500mm700mmX轴倾斜角度±45º驱动速度X轴0 - 80mm/s外加手动Z2轴(立柱)0 - 30mm/s外加手动测量速度0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0、10、20mm/s注 : 虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。附带测量数据输出功能的产品可连接到测量数据网络系统MeasurLink(详细信息参见A-17页)。● Z2轴(立柱)的700mm型最新上市。
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