H-25H直线栅尺●旨在获得机床和包括电子半导体生产设备在内的精密仪器的准确位移量• 采用散斑图的影像相关测量。• X-Y位置的同步非接触式测量。• 纳米级分辨力的测量。• 适于工作台位置重复性的应用。• 能够测量零件的轻微变形和弯曲。2D图像相关编码器MICSYS-SA1■规格货号549-701型号MICSYS-SA1检测方式激光散斑图像相关有效测量范围±100µm (2D)分辨力1nm精度 (20ºC)±100nm数据更新频率 20Hz标准附件测量用标靶，数据收集用简易软件(CD-ROM)测量仪器附带检查成绩书详细信息参见 U-12 页 三丰公司秉承持续创新向客户提供最新技术体验的理念。因此保留对产品的技术规格进行变更的权利。规格如有变更，恕不另行通知。
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