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首页 / 公司概况 / 三丰历程




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三丰历程

1930-1959

1960-1979

1980-1999

2000-

公司编年史

产品编年史


1980年
在英格兰安多弗成立三丰(英国)有限公司。
在墨西哥城成立三丰墨西哥公司
(Mitutoyo Mexicana S.A. de C.V.)。
广岛工厂的分厂志和工厂投入生产。
在美国洛杉矶成立MTI工程公司(现
三丰美国公司洛杉矶工厂)。

在广岛县蒲生丰田郡安浦町成立安浦工厂。

1981年
在荷兰成立Sampo Nederland B.V.公司
(现三丰荷兰公司)。
在墨西哥勒尔马城成立勒尔马工厂。


1982年
在宇都宫清原区成立清原工厂作为光栅尺的专业生产厂,并投入生产。
设立三坐标本部,开发和生产CMM。
设立测量技术研究实验室。
成立三丰比利时公司。

沼田惠范就任取缔役相谈役(执行顾问),
沼田智秀就任代表取缔役会长(董事会主席),沼田惠照就任代表取缔役社长(总裁)。
成立系统研究所(STI)。
在宫崎县田野町成立宫崎工厂(专门进行量块生产),并凭借沼田研究实验室的技术成功投入生产。

1986年
成立三丰法国公司
(Mitutoyo France S.A.R.L).
1987年
在台湾台北成立三丰台湾公司。
成立三丰意大利公司。

在美国密执安州普利茅斯成立DRO工厂,生
产数显标尺。
公司更名为株式会社三丰,合并三丰
贸易公司。
设立销售部。
在东广岛成立志和工厂,专门生产千分
尺,并投入运营。
将广岛工厂更名为吴工厂,专门生产光学仪器和形状测量仪。
设立沼田纪念馆作为50周年纪念标志之一。

1988年
在德国苏黎世成立三丰德国公司(Mitutoyo Schweiz AG)。
成立三丰(马来西亚)Sdn公司。
将以前的芝加哥办事处改组为英制千分表
工厂,长期生产英制千分表。


1989年
设立三丰博物馆作为精密测量设备产业
博物馆。
1980-


1980年
开始生产Digimatic数显高度尺“HD系列”。






1981年
开始生产Digimatic数显千分表“ID系列”。






1983年
开始生产Digimatic数显卡尺“CD系列”。
开始生产激光扫描千分尺。








1987年
开始生产非接触CMM。








1988年
开发并开始生产陶瓷量块。
开发出激光全息测微计“Laser Holoscale”。

 




1989年
开始生产高精度轮廓形状测量仪“CBH 400”系列。

1990年
在大阪南港设立大阪销售中心。
在荷兰成立欧洲研究实验室,研究基础测量技术。
在美国伊利诺伊州成立Aurora事业所,提供CMM组装及拆装服务。同时设立技术服务部,加强CMM区域服务。

1991年
在茨城县筑波成立筑波研究实验室。

1992年
开设宇都宫销售中心。

1993年
为川崎、宇都宫和广岛的各事业所设立
三丰校准中心。
宫崎工厂、志和工厂、测器工厂(现宇都宫工厂)、清原工厂和特尔福特(英国)工厂获得ISO9002认证。
志和工厂和筑波校准中心获准成为制定激光长度标准的责任机构。

1994年
在韩国汉城设立三丰韩国服务公司。
三坐标工厂、芝加哥和洛杉矶的校准
实验室获得ISO9002认证。


1995年
沼田惠照就任董事会副主席,高十乘雄就任总裁。
沟口开发中心和吴工厂获得ISO 9001认证。
技术服务部和Suzano工厂获得ISO 9002认证。

1996年
开设郡山办事处。

1997年
庆祝公司创始人沼田惠范诞辰
100周年。
开设冈山办事处,建造中津川工厂
并投入运营。

1998年
在中国苏州成立“密测多友量仪有限
公司”。
开设千叶办事处。
庆祝三丰德国公司成立30周年。

1999年
成立新乡原材料工厂。
安城营业部迁移新址。
宇都宫办事处获得ISO 14001认证。
广岛办事处迁移新址。
庆祝三丰墨西哥公司成立20周年。
设立宇都宫办事处,三丰博物馆开幕。
广岛办事处获得ISO 14001认证。
公司总部和川崎综合设施获得
ISO 14001认证。

1990-








1991年
开发出圆度圆柱形状测量仪“RA 600系列”,以及可在个人计算机上运行的分析软件。

1992年
开发出非球面测量仪“CV – L 246 – 3D”,以及可在个人计算机上运行的分析软件。

1993年
开发出用于量块校准用干涉计。




1994年
开发并投产非接触CNC视像测量系统
“Quick Vision系列”。
开发开始生产经济型CNC CMM“Bright系列”。
开始生产绝对原点型太阳能Digimatic卡尺。

1995年
开始生产绝对原点型Digimatic千分表。
开发出立式双头差动型量块比较仪。

1996年
开发出小型圆度/圆柱形状测量仪“RA 114/116”。
开发出表面粗糙度/轮廓测量仪“Formtracer SV-C600”
开发出视像测量系统“Quick Scope QS 系列”。
多接合点型CMM(抄数机)“Spin arm”。

1997年
带有温度补偿功能的CMM“FALCIO系列”,以及可在个人计算机上运行的分析软件。

1998年
用于在线测量的卧式CNC CMM: MACH系列”。
超高精度CNC CMM:“LEGEX”。

1999年
便携式表面粗糙度测量仪:Surftest “SJ-301”。
非接触激光位移计:激光指示器“LI-4030N/5030T”。



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